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  • Dependent binary relevance models for multi-label classification [2013]

    Categoría:
    Artículos
    Autores:
    Robin Senge , Elena Montañés Roces , José Barranquero Tolosa , José Ramón Quevedo Pérez , Juan José del Coz Díaz , Eyke Hüllermeier
    Fecha:
    01 de Enero de 2013
    Es parte de:
    Pattern Recognition